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Chroma 正式推出 3650-S2 系列測(cè)試機(jī)的全新 UIS(Unclamped Inductive Switching) 功能模塊，專為半導(dǎo)體組件的雪崩測(cè)試設(shè)計(jì)，特別適用于第三代半導(dǎo)體氮化鎵（GaN）和碳化硅（SiC）組件。這一新功能模塊旨在解決測(cè)試長(zhǎng)期存在的問(wèn)題—無(wú)法獲得完整且準(zhǔn)確的測(cè)試數(shù)據(jù)與波型數(shù)據(jù)。

隨著第三代半導(dǎo)體材料的快速發(fā)展，特別是在電動(dòng)車和高效能電源轉(zhuǎn)換器等應(yīng)用領(lǐng)域，對(duì)這些先進(jìn)組件的準(zhǔn)確測(cè)試需求也越來(lái)越高。然而，現(xiàn)有的測(cè)試設(shè)備往往無(wú)法提供全面且詳細(xì)的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)，對(duì)工程師的分析工作造成困難。

Chroma 的新UIS功能模塊配備了先進(jìn)的高速數(shù)據(jù)抓取 ADC 架構(gòu)，能夠精確捕捉測(cè)試過(guò)程中的參數(shù)細(xì)節(jié)，并生成完整的波型數(shù)據(jù)。這一突破性功能幫助工程師深入分析組件的瞬態(tài)現(xiàn)象和電氣特性，準(zhǔn)確識(shí)別產(chǎn)品的優(yōu)缺點(diǎn)。

相較于市場(chǎng)上的其他產(chǎn)品，Chroma UIS功能模塊在測(cè)試精度和穩(wěn)定性方面大幅提升。該模塊有效解決了電感值隨電流變動(dòng)的問(wèn)題，并提供高分辨率的波形捕捉能力，協(xié)助客戶快速發(fā)現(xiàn)組件的特點(diǎn)和潛在問(wèn)題。

此外，該模塊具備高電壓和高電流測(cè)試能力，并配備多項(xiàng)完善的安全保護(hù)機(jī)制，包括過(guò)電壓和過(guò)電流保護(hù)，確保測(cè)試過(guò)程的安全性。內(nèi)建的自動(dòng)數(shù)據(jù)記錄和分析工具大幅提升了測(cè)試量產(chǎn)和工程分析的效率，降低了人工處理中的錯(cuò)誤。

Chroma 的UIS功能模塊不僅提升了第三代半導(dǎo)體測(cè)試的精度和效率，也使得測(cè)試過(guò)程變得更加安全和可靠。這一創(chuàng)新功能將協(xié)助客戶在激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中取得優(yōu)勢(shì)，為未來(lái)的半導(dǎo)體技術(shù)發(fā)展提供強(qiáng)有力的支持。Chroma 致力于不斷推動(dòng)技術(shù)進(jìn)步，確?？蛻粼趯?shí)現(xiàn)高效能和高可靠性測(cè)試的道路上始終領(lǐng)先一步。